ہائی وولٹیج ٹیسٹنگ کی بنیاد پر درجہ بندی کی گئی ہےمقصد, وولٹیج کی قسم کا اطلاق ہوتا ہے، اورٹیسٹ کی نوعیت(destructive vs. non-destructive). Here's a structured breakdown of theاہم درجہ بندیہائی وولٹیج ٹیسٹنگ کا:
1. مقصد کی بنیاد پر
| درجہ بندی | تفصیل |
|---|---|
| قسم کے ٹیسٹ | معیارات کے ساتھ ڈیزائن کی تعمیل کی توثیق کرنے کے لئے نمونہ یونٹوں پر کارکردگی کا مظاہرہ کیا . |
| معمول کے ٹیسٹ | پیداوار کے معیار کو یقینی بنانے کے لئے مینوفیکچرنگ میں ہر یونٹ پر کیا گیا . |
| کمیشننگ ٹیسٹ | خدمت میں سامان ڈالنے سے پہلے سائٹ پر کام کیا . |
| بحالی کے ٹیسٹ | خدمت کی زندگی کے دوران موصلیت کی صحت کی نگرانی کے لئے وقتا فوقتا کیا گیا . |
| خصوصی ٹیسٹ | تحقیق ، فرانزک تجزیہ ، یا نئی شرائط . کے لئے اپنی مرضی کے مطابق ٹیسٹ |
2. لاگو وولٹیج کی نوعیت پر مبنی
| ٹیسٹ کی قسم | وولٹیج کی قسم | تفصیل |
|---|---|---|
| ڈی سی ہائی وولٹیج ٹیسٹ | براہ راست موجودہ | مستقل قطبی HV کا اطلاق ؛ کیبلز ، بشنگ . کے لئے استعمال کیا جاتا ہے |
| AC ہائی وولٹیج ٹیسٹ | موجودہ موجودہ | پاور فریکوینسی AC (50/60 ہرٹج) یا کم تعدد AC . لاگو ہوتا ہے |
| تسلسل ٹیسٹ | تسلسل وولٹیج | نقالی (بجلی ، سوئچنگ) ؛ بہت مختصر مدت . |
| بہت کم تعدد (VLF) | کم تعدد AC (0.1 ہرٹج) | لمبی کیبل موصلیت کی جانچ کے لئے کم طاقت کا متبادل . |
| آسکیلیٹنگ لہر ٹیسٹ | oscillating ویوفارم | تشخیصی جانچ میں استعمال کیا جاتا ہے ، اکثر جزوی خارج ہونے والے . کے ساتھ |
3. تباہ کن بمقابلہ . غیر تباہ کن پر مبنی
| درجہ بندی | مقصد | تفصیل |
|---|---|---|
| تباہ کن جانچ | ناکامی کی طرف دھکیلیں | خرابی نقطہ کا تعین کرتا ہے (E . g . ، موصلیت کے پنکچر ٹیسٹ) . |
| غیر تباہ کن جانچ | سالمیت کا اندازہ کریں | آبجیکٹ کو نقصان پہنچائے بغیر موصلیت کی صحت کی تصدیق کرتا ہے . |
{{0} test ٹیسٹ کے مقصد پر مبنی
A. ڈائی الیکٹرک طاقت کے ٹیسٹ
مقابلہ (ہائپٹ) ٹیسٹ: ایک مقررہ وقت کے لئے اوور وولٹیج کا اطلاق کریں۔ کوئی خرابی=پاس . کوئی نہیں
خرابی کا امتحان: موصلیت ناکام ہونے تک وولٹیج میں اضافہ کریں (تباہ کن) .
B. تشخیصی ٹیسٹ
موصلیت کے خلاف مزاحمت (IR): میگوہم میٹر (ڈی سی) استعمال کرتا ہے۔ آسان موصلیت چیک .
گنجائش اور ٹین ڈیلٹا (ڈسپیشن فیکٹر).
جزوی خارج ہونے والا (PD) پیمائش: مائکرو انسولیشن نقائص . کا پتہ لگاتا ہے
ٹائم ڈومین ریفلومیٹری (ٹی ڈی آر): کیبلز میں غلطیوں کا پتہ لگاتا ہے .
oscillating لہر ٹیسٹ (OWTs): لمبی کیبلز پر کم توانائی PD ٹیسٹنگ .
C. اضافے (تسلسل) ٹیسٹ
بجلی کا تسلسل ٹیسٹ: نقالی 1 . 2/50 µs اوور وولٹیج (IEC/IEEE معیار)
تسلسل ٹیسٹ کو تبدیل کرنا: EHV سسٹم میں سست اضافے کا نقالی (E .} g . ، 250/2500 µs) .}
بین الاقوامی معیار کے مطابق 5.
بہت سارے ٹیسٹ معیارات میں بیان کیے گئے ہیں جیسے:
| معیار | دائرہ کار |
|---|---|
| iec 60060-1/-2 | عام HV ٹیسٹ تکنیک |
| IEC 60502 / IEC 60840 | HV کیبل ٹیسٹنگ (AC ، VLF ، PD ، وغیرہ .) |
| iec 60076-3 | ٹرانسفارمر ڈائی الیکٹرک ٹیسٹ |
| آئی ای ای 400 سیریز | فیلڈ ٹیسٹنگ اور کیبل سسٹم کی تشخیص |
| IEC 60270 | PD پیمائش اور ٹیسٹ کے طریقے |
خلاصہ ٹیبل
| درجہ بندی کا طریقہ | مثالوں |
|---|---|
| بذریعہمقصد | ٹائپ ٹیسٹ ، روٹین ٹیسٹ ، کمیشننگ ٹیسٹ |
| بذریعہوولٹیج کی قسم | AC ، DC ، تسلسل ، VLF ، oscillating Wave |
| بذریعہتباہ کن | تباہ کن (خرابی) ، غیر تباہ کن (برداشت ، PD) |
| بذریعہمقصد | ڈائیلیٹرک ، تشخیصی ، اضافے کا تخروپن |
| بذریعہمعیار | آئی ای سی ، آئی ای ای ای ، اے این ایس آئی پر مبنی درجہ بندی |