VLF (انتہائی کم فریکوئنسی) ٹیسٹنگ اور PD (جزوی خارج ہونے والے مادہ) کی جانچ متعلقہ لیکن الگ الگ تکنیک ہیں جو ہائی وولٹیج کیبلز اور برقی موصلیت کے نظام کی تشخیص میں استعمال ہوتی ہیں۔ اگرچہ دونوں ٹیسٹ موصلیت کی سالمیت کی مجموعی تشخیص میں حصہ ڈالتے ہیں، وہ جانچ کے عمل کے مختلف پہلوؤں پر توجہ مرکوز کرتے ہیں۔ VLF ٹیسٹنگ اور PD ٹیسٹنگ کے درمیان اہم فرق یہ ہیں:
VLF (بہت کم تعدد) ٹیسٹنگ:
مقصد:
مین فوکس: VLF ٹیسٹنگ بنیادی طور پر کیبل کی موصلیت کی صلاحیت کا اندازہ لگاتی ہے کہ وہ بہت کم فریکوئنسیوں پر ہائی وولٹیج کے دباؤ کو برداشت کر سکے۔
مقصد: بغیر ٹوٹے معیاری پاور فریکوئنسی (50 یا 60 ہرٹز) سے نمایاں طور پر زیادہ وولٹیج کی سطح کو برداشت کرنے کی کیبل کی صلاحیت کا تعین کرنا۔
تعدد:
تعدد کی حد: VLF ٹیسٹنگ عام طور پر {{0}}.1 Hz اور 0.01 Hz کے درمیان تعدد پر کام کرتی ہے۔
کم تعدد: کم فریکوئنسی توسیعی مدت کی جانچ کی اجازت دیتی ہے، جس سے یہ موصلیت کے مسائل کا پتہ لگانے میں موثر بنتی ہے جو معیاری پاور فریکوئنسی حالات میں ظاہر نہیں ہو سکتے۔
جانچ کی شرائط:
غیر تباہ کن: VLF ٹیسٹنگ غیر تباہ کن ہے، مطلب یہ ہے کہ یہ جانچ کے عمل کے دوران موصلیت کو اہم دباؤ یا نقصان نہیں پہنچاتا ہے۔
معمول کی دیکھ بھال: یہ عام طور پر کیبل مینوفیکچرنگ میں معمول کی دیکھ بھال، احتیاطی جانچ، اور کوالٹی کنٹرول کے لیے استعمال ہوتا ہے۔
جزوی خارج ہونے والے مادہ کا پتہ لگانا:
جزوی خارج ہونے والی حساسیت: VLF ٹیسٹنگ موصلیت کے اندر جزوی خارج ہونے والے مادہ کا پتہ لگانے میں مؤثر ہے۔
انٹیگریٹڈ فیچر: کچھ VLF ٹیسٹرز میں جزوی خارج ہونے والے مادہ کا پتہ لگانے کی صلاحیتیں مربوط ہو سکتی ہیں۔
درخواستیں:
درمیانے اور ہائی وولٹیج کی سطحیں: VLF ٹیسٹنگ درمیانے اور ہائی وولٹیج کی سطحوں کے لیے موزوں ہے، جس سے یہ تقسیم کے نیٹ ورکس اور ہائی وولٹیج کے آلات سمیت ایپلی کیشنز کی ایک وسیع رینج کے لیے قابل اطلاق ہوتا ہے۔
جزوی ڈسچارج (PD) ٹیسٹنگ:
مقصد:
مرکزی توجہ: PD ٹیسٹنگ خاص طور پر کیبل کی موصلیت کے اندر جزوی خارج ہونے والے مادہ کا پتہ لگانے پر مرکوز ہے۔
مقصد: موصلیت کی خرابی، نقائص، یا کمزوریوں کی ابتدائی علامات کی نشاندہی کرنا جو کیبل کی خرابی کا باعث بن سکتے ہیں۔
تعدد:
فریکوئینسی رینج: PD ٹیسٹنگ میں اکثر اعلی تعدد شامل ہوتے ہیں، عام طور پر ریڈیو فریکوئنسی (RF) رینج (kHz سے MHz) میں۔
خارج ہونے والے مادہ کے لیے حساسیت: اعلی تعدد جزوی خارج ہونے والے واقعات کا پتہ لگانے کے لیے زیادہ حساس ہوتے ہیں۔
جانچ کی شرائط:
تباہ کن امکان: PD ٹیسٹنگ، خاص طور پر اعلی تعدد پر، موصلیت کے لیے زیادہ دباؤ کا حامل ہو سکتا ہے اور اس میں عمر بڑھنے کی صلاحیت ہوتی ہے۔
تشخیصی نوعیت: PD ٹیسٹنگ کا استعمال اکثر تشخیصی مقاصد کے لیے کیا جاتا ہے تاکہ موصلیت کے انحطاط کے مخصوص علاقوں کی نشاندہی کی جا سکے۔
جزوی خارج ہونے والے مادہ کا پتہ لگانا:
پرائمری فوکس: PD ٹیسٹنگ خاص طور پر جزوی خارج ہونے والے واقعات کی کھوج اور پیمائش کے لیے بنائی گئی ہے۔
مقداری تجزیہ: PD ٹیسٹنگ جزوی خارج ہونے والے مادہ کی شدت، مقام اور خصوصیات کے بارے میں مقداری معلومات فراہم کرتا ہے۔
درخواستیں:
تشخیصی جانچ: PD ٹیسٹنگ عام طور پر کیبلز، ٹرانسفارمرز، اور دیگر ہائی وولٹیج آلات کی حالت کا جائزہ لینے کے لیے ایک تشخیصی آلے کے طور پر استعمال ہوتی ہے۔
کریٹیکل ایپلی کیشنز: یہ اکثر اہم ایپلی کیشنز میں استعمال ہوتا ہے جہاں غیر منصوبہ بند بندش کو روکنے کے لیے جزوی خارج ہونے والے مادہ کا جلد پتہ لگانا بہت ضروری ہے۔
خلاصہ:
VLF ٹیسٹنگ: بہت کم تعدد پر ہائی وولٹیج کے دباؤ کو برداشت کرنے کی کیبل کی صلاحیت کا اندازہ لگانے پر توجہ مرکوز کرتا ہے۔ یہ غیر تباہ کن ہے، معمول کی دیکھ بھال کے لیے موزوں ہے، اور ایک مربوط خصوصیت کے طور پر جزوی خارج ہونے والے مادہ کا پتہ لگا سکتا ہے۔
PD ٹیسٹنگ: خاص طور پر موصلیت کے اندر جزوی خارج ہونے والے مادہ کی کھوج اور پیمائش کو ہدف بناتا ہے۔ PD ٹیسٹنگ میں اعلی تعدد شامل ہوسکتا ہے، فطرت میں زیادہ تشخیصی ہے، اور خارج ہونے والے واقعات کے بارے میں تفصیلی معلومات فراہم کرتا ہے۔
جب کہ VLF ٹیسٹنگ اور PD ٹیسٹنگ دونوں موصلیت کی سالمیت کی جانچ میں حصہ ڈالتے ہیں، وہ ہائی وولٹیج برقی نظاموں کی مجموعی جانچ اور دیکھ بھال کی حکمت عملیوں کے اندر مختلف مقاصد کی تکمیل کرتے ہیں۔