ایس ایف آر اے ٹیسٹ ڈیوائسووہان UHV کے تحت بہت سارے پاور ورکرز کو زیادہ آسانی سے مختلف پاور ٹیسٹ کروانے میں مدد مل سکتی ہے۔
بنیادی جانچ کا اصول ایس ایف آر اے ٹیسٹ ڈیوائس تعدد ردعمل کا تجزیہ (ایف آر اے) ہے۔
1. انجیکشن سویپ سگنل: ان پٹ کو کم - وولٹیج سائن لہر سگنلوں کے ساتھ تعدد (جیسے 1KHz-2MHz) ٹرانسفارمر سمیٹ کے ایک سرے پر۔
2. پیمائش کا جواب: سمیٹ کے دوسرے سرے پر آؤٹ پٹ سگنل کے طول و عرض (اور مرحلے) کی پیمائش کریں۔
3. خصوصیت کے منحنی خطوط پیدا کریں: ہر فریکوینسی پوائنٹ پر ان پٹ/آؤٹ پٹ کے طول و عرض کے تناسب (DB ویلیو) کا حساب لگائیں ، اور سمیٹنے کے فریکوئینسی رسپانس وکر کو کھینچیں۔ یہ منحنی خطوط (کیپسیٹینس ، انڈکٹینس ڈسٹری بیوشن) کی جسمانی ساخت کا ایک انوکھا "فنگر پرنٹ" ہے۔
4. تقابلی تشخیص: موجودہ وکر کو فیکٹری/تاریخی بینچ مارک منحنی خطوط یا سمیٹنے کے دوسرے مرحلے کے صحت کے منحنی خطوط کے ساتھ سختی سے موازنہ کریں۔
5. اخترتی کی نشاندہی: اگر وکر کی شکل میں کوئی خاص انحراف ہوتا ہے (جیسے گونج چوٹی/وادی پوزیشن ، طول و عرض میں تبدیلی ، یا مجموعی شکل میں تبدیلی میں تبدیلی) ، تو اس سے یہ ظاہر ہوتا ہے کہ سمیٹنے کی داخلی ڈھانچہ (جیسے کنڈلی نقل مکانی ، بلجنگ ، شارٹ سرکٹ) میں میکانی خرابی سے دوچار ہوسکتا ہے۔
ایک اور طریقہ: کم وولٹیج تسلسل (LVI)
اگرچہ ایف آر اے مطلق مرکزی دھارے میں ہے ، لیکن کچھ ٹیسٹر بھی LVI کے طریقہ کار کو مربوط کرتے ہیں۔
اصول: نانو سیکنڈ کی سطح کم - وولٹیج پلس کو سمیٹنے میں انجیکشن لگائیں اور سمیٹنے والے اختتامی نقطہ کے وقت - ڈومین ردعمل کی پیمائش کریں (واقعے کی لہر کا وولٹیج ویوفارم اور عکاس لہر کو بڑھاوا دیا گیا ہے)۔
تشخیص: موجودہ ویوفارم اور تاریخی ویوفارمز یا متبادل موجوں کے مابین اختلافات کا موازنہ کرکے اخترتی کا تعین کریں ، جیسے عکاس لہروں کی آمد کا وقت ، چوٹی اور وادی کی پوزیشنوں اور طول و عرض میں تبدیلی۔ LVI شدید مقامی خرابی (جیسے انٹر ٹرن شارٹ سرکٹس) کا پتہ لگانے کے لئے زیادہ حساس ہوسکتا ہے ، لیکن مجموعی طور پر ایف آر اے میں ایپلی کیشنز کی ایک وسیع رینج ، زیادہ سے زیادہ معلومات ہیں ، اور یہ معمولی خرابی کا پتہ لگانے کے لئے زیادہ موثر ہے۔